2024年10月16日 · ;电阻率计算;PART;该方法采用非接触式测试，避免了接触式测量可能带来的误差，提高了测试精度。 ;相比传统的接触式测试方法，非接触测试方法具有更快的测试速度， …

2024年11月27日 · 测试费用 ：测试室工程师会根据检测项目及测试复杂程度进行报价。 测试范围 ：硅片 硅片测试项目 物理指标 ：电阻率测试，翘曲度测试，弯曲度测试，厚度测试，膜厚测 …

2021年3月31日 · ICS9.045H80中华人民共和国国家标准中华人民共和国国家标准GB/T6616-00×代替GB/T6616-1995半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法 图案背景

2024年6月18日 · 晶圆电阻率测试仪 采用非接触方式测量晶圆电阻率,测量P/N类型和晶圆厚度,适合硅材料和其它材料的Sheet Resistance测量。 晶圆制造，晶圆品控，晶圆检测等。 详情请您 …

2025年1月20日 · 碳化硅单晶电阻率的测试，是衡量碳化硅单晶片质量好坏的关键参数之一， 关于导电碳化硅单晶片电阻率非接触涡流测试方法， Toggle navigation 仪器谱

2023年9月12日 · 本发明公开了一种非接触式硅片电阻率在线测量方法及系统，属于电阻率测量技术领域，方法包括：将待测硅片放置于电极阵列中，向电极阵列通入激励电流以形成敏感场 …

2018年9月26日 · 摘 要院 分析了硅晶片电阻率测试的重要性并介绍了国内外常用的电阻率测试方法袁并对使用最 均值，测量精度约为 5% ；第二种测试方法是等离 测 试 。

2011年9月6日 · 与霍尔法相比, 非接触电阻率测试法不用进行 退火, 不用制作欧姆接触即可以测试晶片的电阻 率。该方法不但可以测量半绝缘碳化硅晶片上各个 点的电阻率值, 而且还能显示出 …

2015年4月14日 · 介绍了一种非接触电阻率测试方法，可以有效地解决这一难题。 该方法利用电容充放电原理。 首先对样品进行瞬时充电，再利用仪器实时检测放电过程中的总电量，从而得 …