2022年1月9日 · 电迁移简写为EM,electromigration,这是一种很基本的电学现象,可能在电路课上讲的少,反而物理课上会听过。EM对现在的芯片设计有很大影响,已经成为后端设计一个 …
电迁移(英語: Electromigration ) [1] 是由于通电导体内的电子运动,把它们的动能传递给导体的金属离子,使离子朝电场反方向运动而逐渐迁移,导致导体的原子扩散、损失的一种现象。
2023年8月30日 · 当电流流动,电场作用下自由电子定向移动并不断与原本固定不动的金属原子不断发生碰撞并进行动量交换,在金属原子内产生电子风力,而随着电流密度的不断增加,电子 …
2021年9月7日 · 电迁移(Electrical Migration, EM)是金属导线在高电流密度下发生形变的现象,可能导致器件性能退化甚至失效。因此,具有抗电迁移特性的金属合金薄膜对于保证这些高 …
电迁移是金属线在电流和温度作用下产生的金属迁移现象,运动中的电子和主体金属晶格之间相互交换动量,金属原子沿电子流方向迁移时,就会在原有位置上形成空洞,同时,在金属原子迁 …
電遷移(英語: Electromigration ) [1] 是由於通電導體內的電子運動,把它們的動能傳遞給導體的金屬離子,使離子朝電場反方向運動而逐漸遷移,導致導體的原子擴散、損失的一種現象。
阐述了无铅焊料中电迁移的物理特性,由于焊点的特殊几何形状,电流拥挤效应将发生在焊点与导线的接点处;电迁移效应导致无铅焊料中金属间化合物(imc)的生成与溶解,以及焊点下的金属化 …
2023年7月19日 · 随着电子产品的不断发展,了解并应对电迁移带来的挑战至关重要,以确保芯片的可靠性和使用寿命。 利用 Ansys Redhawk-SC 和 Ansys Totem 等先进仿真签核工具,即使 …
2022年3月19日 · 电迁移效应(electro-migrationeffect)是指金属导线中的电子在大电流的作用下,产生电子迁移的现象。 当电子流过金属线时,将同金属线的原子发生碰撞,碰撞导致金属 …
电迁移(英语: Electromigration ) [1] 是由于通电导体内的电子运动,把它们的动能传递给导体的金属离子,使离子朝电场反方向运动而逐渐迁移,导致导体的原子扩散、损失的一种现象。